先行技術調査のやり方 — 初心者向け

内容見直し済み（2026-05-28） このページの費用・軽減制度・PCT国際出願・年金に関する情報は、制度改定や為替・個別条件で変わります。意思決定前に、産業財産権関係手数料ページ、料金軽減・免除制度、PCT国際出願制度等の一次情報で最新条件を確認することを推奨します。本文中の金額は断定ではなく、確認項目を理解するための参考整理です。

一次情報チェック中（2026-05-28追記） 統計・見通し・独自分析は、公開統計と編集部分析を分けて読み取ってください。主な参照先: 法令改正情報 / e-Gov特許法

一次情報チェックポイント（2026-05-28確認）

費用・軽減制度・PCT国際出願・年金は、年度改定・請求項数・出願形態・国際調査機関・為替・個別要件によって変わります。この記事では断定的な金額表ではなく、次の一次情報で確認すべき項目を整理します。

確認項目	一次情報	見るポイント
国内出願・審査請求・特許料（年金）	産業財産権関係手数料ページ	出願料、審査請求料、請求項数別加算、年次別特許料
軽減・免除制度	料金軽減・免除制度	対象者、対象手続、軽減割合、申請期限・必要書類
中小・ベンチャー向け軽減	中小・ベンチャー企業向け料金軽減措置	自社が対象に入るか、どの費用が軽減されるか
PCT国際出願	PCT国際出願制度 / WIPO PCT	国際段階・国内移行期限・手数料・国際調査/予備審査
公的相談	INPIT 知財総合支援窓口	無料相談、専門家支援、地域窓口

この記事内に過去の金額例・割合例・ケース別試算が残る場合も、最終判断には使わず、上記リンク先で最新の表・条件を確認することを推奨します。

はじめに

特許出願の前に行う先行技術調査は、出願の成否を大きく左右します。既に同様の技術が公開されていれば、新規性や進歩性が否定され、特許を取得できません。本記事では、先行技術調査の初心者が押さえるべき手順とツールを紹介します。

先行技術調査の目的

なぜ調査が必要か

目的	具体的なメリット
新規性の確認	同一技術の存在有無を事前に把握
進歩性の判断材料	類似技術との差異を明確化
出願費用の節約	権利化のハードルが高い出願を見直す
クレーム設計の参考	先行技術を避けた権利範囲の設定

主要な検索ツール

J-PlatPat（日本特許）

産業財産権情報サイトが提供する無料の特許情報検索サービスです。日本の特許・実用新案・意匠・商標の検索が可能です。

基本的な検索手順:

J-PlatPat（https://www.j-platpat.inpit.go.jp/）にアクセス
「特許・実用新案」タブを選択
キーワード検索またはIPC分類検索を実行
検索結果から関連文献を確認

公開特許検索

世界中の特許文献を横断検索できる無料ツールです。日本語での検索にも対応しています。

Espacenet（EPO）

EPOが提供するデータベースで、全世界の特許文献にアクセスできます。

IPC分類を活用した検索

IPC（国際特許分類）とは

特許技術を階層的に分類するコード体系です。キーワード検索だけでは漏れが生じるため、IPC分類を併用した検索が重要です。

IPC分類の構造例:

セクション: H（電気）
クラス: H04（電気通信技術）
サブクラス: H04L（デジタル情報の伝送）
メイングループ: H04L 9/00（暗号配置）

IPC分類の調べ方

まずキーワードで予備検索を行う
関連性の高い特許文献のIPC分類を確認する
そのIPC分類で再検索し、漏れを防ぐ

調査結果の評価方法

先行技術文献が見つかった場合、以下の観点で自社発明との対比を行います。

構成要素の一致: クレームの各要素が先行技術に開示されているか
技術的効果の違い: 先行技術にない効果があるか
組み合わせの容易性: 複数の先行技術を組み合わせれば到達できるか

まとめ

先行技術調査は、キーワード検索とIPC分類検索を組み合わせて行うことが基本です。J-PlatPatと公開特許検索を活用し、出願前に十分な調査を行うことで、権利化の確度を高めましょう。